產品介紹
技術參數
測量原理
采用 光學掃描增量式光柵測量技術,通過掃描光柵鋼帶的黑白相間條紋產生正弦信號,分辨率可達 50 納 米(取決于配套光柵尺型號)。
支持 1Vpp 模擬信號 或 TTL 數字信號輸出,兼容多種數控系統(如西門子、發那科、三菱等)。
機械特性
安裝方式:需配合光柵尺底座(如 LIDA 207/209)或直接安裝在設備導軌上,支持雙面膠或螺絲固定。
防護等級:IP64(防塵防濺水),適用于工業環境。
尺寸與重量:
讀數頭本體:約 111mm ×
30mm × 20mm(長 × 寬 × 高)。
重量:約 200g(不含電纜)。
電氣參數
供電電壓:5V DC ±百 分 之5(紋波≤100mV)。
功耗:約 0.5W。
信號輸出:
模擬信號:正弦波(Sin/Cos 1Vpp),相位差 90°。
數字信號:TTL 電平(A/B/Z 相,1 倍頻或 4 倍頻)。
性能指標
測量速度:可達 120m/min。
定位精度:±2μm(配套光柵尺精度等級為 5μm/m 時)。
重復精度:≤±0.5μm。
二、應用場景
工業自動化
數控機床(如加工中 心、磨床)的直線軸位置反饋。
半導體設備(如光刻機、晶圓切割設備)的精 密定位。
機器人關節驅動系統的位移監測。
計量與檢測
三坐標測量機(CMM)的高精度位移測量。
電子元件(如 PCB 板)的激光打標、切割設備。
特殊環境
無塵車間、潔凈室等對污染敏 感的環境(IP64 防護)。
高速動態運動設備(如包裝機械、印刷機)。
技術團隊服務熱線:0591-88263940